特許

J-GLOBAL ID：200903012084371452

内部透過率の測定方法及び分光光度計の調整方法

発明者： 小峯 典男 ,  神保 宏樹 ,  藤原 誠志 ,  平岩 弘之
出願人/特許権者： 株式会社ニコン
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-211217
公開番号（公開出願番号）：特開平7-063680
出願日： 1993年08月26日
公開日（公表日）： 1995年03月10日
要約：

【要約】【目的】 紫外領域における光学素材の内部透過率(反射損失を含まない分光透過率)を精度良く測定する方法を提供する。【構成】 厚みの異なる試料を2枚ではなく、3枚以上の複数枚用意して測定精度の向上を図り、しかも、厚さの範囲は通常の分光光度計の試料室に容易にセットできる1mm〜30mm程度にして、反射損失を含む分光透過率を測定し、それらの測定値から内部透過率を計算によって求めることによって、内部透過率の測定精度の向上を図った。

請求項（抜粋）：

厚みの異なる3枚以上の光学素材の「反射損失を含む分光透過率」を測定し、該測定値から内部透過率を算出することを特徴とする光学素材の内部透過率の測定方法。

IPC (2件)：

G01N 21/59 ,  G01N 21/25

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特公平4-040297
  
• 特開昭63-144237
  
• 特開平2-188442