特許

J-GLOBAL ID：200903012328762238

移動プローブ型インサーキツト・テスタ

発明者： 富田 良一
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (1件)： 役 昌明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-146537
公開番号（公開出願番号）：特開平5-087875
出願日： 1991年05月23日
公開日（公表日）： 1993年04月06日
要約：

【要約】【目的】 プローブの移動回数を減らし、テストに要する時間および測定点の座標プログラミングの時間を大幅に削減できる移動プローブ型インサーキット・テスタを得ること。【構成】 複数の接触ピン5を1群として配置したプローブと、このプローブを保持してX-Y方向に移動する手段12と、プローブを所要の位置まで移動したときにプローブを下降させて各接触ピン5を被測定点に接触させるプローブ押圧手段11と、各接触ピン5をインサーキット・テスタ9の回路部に接続するケーブル10で構成されている。そして、プローブの1度の移動で、多数の被測定点に同時に接触でき、多数の項目のテストが実施できる。また、各種のプリント配線基板の回路パターンに合わせた複数の接触ピン5を配置したプローブを用意しておくことにより、テストすべきプリント配線基板の変更に迅速に対応できる。

請求項（抜粋）：

複数の接触ピンを配置したプローブと、該プローブを保持してX-Y方向に移動する手段と、前記プローブを所要の位置まで移動したときプローブを下降させて前記各接触ピンを被測定点に接触させる下降手段と、前記各接触ピンをインサーキット・テスタの回路部に接続するケーブルとを具備することを特徴とする移動プローブ型インサーキット・テスタ。

IPC (4件)：

G01R 31/26 ,  G01R 1/073 ,  G01R 31/02 ,  G01R 31/28