特許
J-GLOBAL ID：200903012446141388
器械高測定アタッチメント付き測量機
発明者：
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-070305
公開番号（公開出願番号）：特開平9-257481
出願日： 1996年03月26日
公開日（公表日）： 1997年10月03日
要約：
【要約】【課題】 巻き尺を必要とせず、測量機の器械高が測定誤差なく、入力ミスなく求めることができる器械高測定アタッチメント付き測量機を提供すること。【解決手段】 望遠鏡(8)と高低角測定手段を備える電子式測量機(10)において、前記望遠鏡の対物レンズ先端部に、着脱可能に設けた前記望遠鏡の光軸を下向きに偏向する光路偏向手段(2)と、前記視準望遠鏡の偏向した光軸(O-A)を測量点(O)に向けたときの前記高低角測定手段の出力に基づいて、機器の測点からの高さを求める演算手段(9)とを備えた。
請求項（抜粋）：
望遠鏡と高低角測定手段とを備える電子式測量機において、前記望遠鏡の対物レンズ先端部に着脱可能に設けた前記望遠鏡の光軸を下向きに偏向する光軸偏向手段と、前記望遠鏡の偏向した光軸を前記測量機を設置した測量点に向けたときの前記高低角測定手段の出力に基づいて、測量機の測量点からの高さを求める演算手段とを備えたことを特徴とする器械高測定アタッチメント付き測量機。
IPC (3件)：
G01C 15/00
, G01C 1/02
, G01C 5/00
G01C 15/00 P
, G01C 1/02 A
, G01C 5/00 T
