テストパタ-ン作成装置

発明者：
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-210690
公開番号（公開出願番号）：特開平6-034716
出願日： 1992年07月16日
公開日（公表日）： 1994年02月10日
要約：

【要約】【目的】メ-カ-毎のル-ルを意識せずに、ル-ルに合ったダブルパルス,トリプルパルスを作成する。【構成】入力されて定義済のタイミングデ-タからダブルパルス又はトリプルパルスを作成するときに、ダブル,トリプルパルスル-ル確認手段16で、定義付けされたダブルパルス又はトリプルパルスがル-ル保持手段12に設定されたメ-カ-毎のル-ルに適合するかどうかを確認して表示する。また、波形重なり検出手段17でダブルパルス又はトリプルパルスの波形が重なったときに、メ-カ-毎のル-ルに適合するかどうかを確認して表示する。

請求項（抜粋）：

論理回路のシミュレ-ションを行なうために使用するテストパタ-ン作成装置において、メ-カ-毎のル-ルを保持するル-ル保持手段と、入力されて定義済のタイミングデ-タをダブルパルス又はトリプルパルスとして定義付けするダブル,トリプルパルス定義手段と、定義付けされたダブルパルス又はトリプルパルスがル-ル保持手段に設定されたメ-カ-毎のル-ルに適合するかどうかを確認するダブル,トリプルパルスル-ル確認手段と、ダブル,トリプルパルスル-ル確認手段で確認した結果を表示する表示手段とを備えたことを特徴とするテストパタ-ン作成装置。

IPC (2件)：

G01R 31/28 , G06F 15/60 360

FI (2件)：

G01R 31/28 Q , G01R 31/28 F

前のページに戻る