特許

J-GLOBAL ID：200903012463168702

小型無線機器の性能評価用測定室

発明者： 石野 健 ,  橋本 康雄 ,  鈴木 良和 ,  柳川 太成
出願人/特許権者： ティーディーケイ株式会社
代理人 (1件)： 山本 恵一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-201311
公開番号（公開出願番号）：特開平7-038275
出願日： 1993年07月22日
公開日（公表日）： 1995年02月07日
要約：

【要約】【目的】 小型であって設置スペースを取らず、しかもコストが安く、小型無線機器の送信性能及び受信性能の検査及び評価が極めて効率よく行える性能評価用測定室を提供する。【構成】 不特定多数の共振モードが内部に同時に存在するように、少なくとも1対の対向する金属壁間隔が使用される最低周波数の4波長以上である金属壁で囲まれた多面体構造の測定室10であり、不特定多数の共振モードにおける境界条件を15msec以下の周期で時間的に変動させる境界条件変動手段11、12を備えている。

請求項（抜粋）：

不特定多数の共振モードが内部に同時に存在するように、少なくとも1対の対向する金属壁間隔が使用される最低周波数の4波長以上である金属壁で囲まれた多面体構造の測定室であり、不特定多数の共振モードにおける境界条件を15msec以下の周期で時間的に変動させる境界条件変動手段を備えたことを特徴とする小型無線機器の性能評価用測定室。

IPC (3件)：

H05K 9/00 ,  G12B 17/02 ,  H01P 7/06

引用特許：

出願人引用 (3件)

• 電磁波妨害排除能力測定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-159923   出願人：エレナ電子株式会社
• 電波暗室
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-172145   出願人：株式会社日立製作所
• 特開平2-042799