光電検出装置、光学特性検出装置、および撮像装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：永井冬紀
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-148255
公開番号（公開出願番号）：特開2007-316521
出願日： 2006年05月29日
公開日（公表日）： 2007年12月06日
要約：

【課題】焦点検出精度の向上を図る。【解決手段】結像光学系21の予定焦点面15aから所定距離L離間した位置に複数のマイクロレンズm0〜m7を配列したマイクロレンズアレイ15bと、各マイクロレンズm0〜m7に対して複数の受光部a0〜f0、・・、a7〜f7が配置されるとともに、結像光学系21とマイクロレンズアレイ15bとを介した光束を検出する受光部アレイP0〜P7と、マイクロレンズm0〜m7ごとに複数の受光部a0〜f0、・・、a7〜f7で得られる受光信号からそれぞれ少なくとも1つの受光信号を選択して第1信号列を作成するとともに、マイクロレンズm0〜m7ごとに受光信号のうち第1信号列とは異なる少なくとも1つの受光信号を選択して第2信号列を作成する信号列抽出手段と、第1信号列で示される波形の位相と第2信号列で示される波形の位相とのずれを求める位相差検出手段と、ずれに基づいて予定焦点面における結像光学系21の結像状態を検出する結像状態検出手段とを備える。【選択図】図3

請求項（抜粋）：

結像光学系の予定焦点面から所定距離離間した位置に複数のマイクロレンズを配列したマイクロレンズアレイと、前記各マイクロレンズに対して複数の受光部が配置されるとともに、前記結像光学系と前記マイクロレンズアレイとを介した光束を検出する受光部アレイと、前記マイクロレンズごとに、前記複数の受光部で得られる受光信号からそれぞれ少なくとも1つの受光信号を選択して第1信号列を作成するとともに、前記マイクロレンズごとに、前記受光信号のうち前記第1信号列とは異なる少なくとも1つの受光信号を選択して第2信号列を作成する信号列抽出手段と、前記第1信号列で示される波形の位相と前記第2信号列で示される波形の位相とのずれを求める位相差検出手段と、前記ずれに基づいて、前記予定焦点面における前記結像光学系の結像状態を検出する結像状態検出手段とを備えたことを特徴とする光電検出装置。

IPC (4件)：

G02B 7/34 , G02B 7/28 , G03B 13/36 , H04N 5/232

FI (4件)：

G02B7/11 C , G02B7/11 N , G03B3/00 A , H04N5/232 H

Fターム (17件)：

2H011BA23 , 2H011BB01 , 2H011BB02 , 2H051AA06 , 2H051BA06 , 2H051CB09 , 2H051CB20 , 2H051CB27 , 2H051CB29 , 2H051CE16 , 2H051EB04 , 5C122DA04 , 5C122EA59 , 5C122FD07 , 5C122GE11 , 5C122HA75 , 5C122HB10

引用特許：

出願人引用 (2件)

特開昭54-159259号公報
特開昭56-032126号公報

審査官引用 (3件)

特開平4-211212
特開平1-140108
特開昭58-087512

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