特許
J-GLOBAL ID：200903012530559169
測距装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
鈴木 章夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-290066
公開番号（公開出願番号）：特開平6-235634
出願日： 1993年10月26日
公開日（公表日）： 1994年08月23日
要約：
【要約】【目的】 対象物からの反射光を利用して対象物までの距離を測定する装置において、装置の高価格化や高消費電流化を生じることなく、測距の精度を高めることを可能とする。【構成】 対象物Aに発光ダイオード13からの光を投射し、その反射光の受光位置を位置検出器16で検出する。この位置検出器16は、長さ方向にずらした2つのリニアラインセンサ161,162で構成し、各リニアラインセンサの出力を距離演算回路181,182でそれぞれ距離演算してアナログ距離情報を求め、かつこのアナログ距離情報をA/D変換器191,192でディジタル値に変換し、かつ各ディジタル値を処理回路20で加算することで、A/D変換器の変換幅の1/2の幅でA/D変換した場合と同じ分解能のディジタル距離情報を得ることができ、分解能の低いA/D変換器を用いても、高精度の測距が実現される。
請求項（抜粋）：
対象物に投射する光を発光する手段と、前記対象物からの反射光を受光し、その受光位置を検出する受光位置検出手段と、検出された受光位置に基づいて対象物までの距離をアナログ演算する演算手段と、演算されたアナログ値をそれぞれ異なる基準でディジタル値に変換する複数のアナログ-ディジタル変換手段(以下、A/D変換手段と称する)と、変換されたこれらのディジタル値を処理して複数倍の変換精度のディジタル値を得る手段とを備えることを特徴とする測距装置。
IPC (3件)：
G01C 3/06
, G02B 7/32
, G03B 13/36
G02B 7/11 B
, G03B 3/00 A
