特許
J-GLOBAL ID：200903012554134754
多層基板および多層基板の積層ずれ検出方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
鈴江 武彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-086080
公開番号（公開出願番号）：特開平6-302716
出願日： 1993年04月13日
公開日（公表日）： 1994年10月28日
要約：
【要約】【目的】 より良好な製品を製造することができる多層基板およびその多層基板の積層ずれ検出方法を提供することを目的とするものである。【構成】 第1の層4および、それぞれ異なる大きさの矩形状の開口5a、6aを有しその周辺部にインナーリード8...、9...が突出されてなる第2、第3の層5、6からなる多層セラミック基板であって、上記第2、第3の層5、6には、上記矩形状の開口5a、6aの4隅部のうち少なくとも対角に位置する2隅部に、それぞれこの開口5a、6aの対角線に沿う帯状の検出マーク20、21が同幅で形成されていることを特徴とするものである。
請求項（抜粋）：
それぞれ異なる大きさの矩形状の開口を有しその周辺部にインナーリードが突出されてなる2枚以上の基板を積層してなる多層基板において、上記各基板には、それぞれ上記矩形状の開口の4隅部のうち少なくとも対角に位置する2隅部に、この開口の対角線に沿う検出マークが所定の幅で形成されていることを特徴とするものである。
IPC (2件)：
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