特許
J-GLOBAL ID：200903012598758984
光ファイバ式多点型物理量検出装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
絹谷 信雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-212047
公開番号（公開出願番号）：特開平11-051784
出願日： 1997年08月06日
公開日（公表日）： 1999年02月26日
要約：
【要約】【課題】 光源の出力が低下したり、光ファイバが断線しても誤判定のない光ファイバ式多点型物理量検出装置を提供する。【解決手段】 光ファイバ1a,1b(1)光分岐器 311〜 313、光式物理量センサ2a〜2n或いは反射器 411〜414,41a 〜41n からなる光ファイバ系統の形状が梯子型或いは櫛型であって、光源4から光ファイバ1a,1b(1)に光パルスを入射し、光ファイバ系統を通った光パルスを受光器5で受光して信号処理装置9で信号処理する光ファイバ式多点型物理量検出装置において、光ファイバ系統に近端リファレンス6a、遠端リファレンス6b、ハイレベルリファレンス7a及びローレベルリファレンス7bを用いて光パルスの有無を検出することにより、光源4の出力が低下したり、光ファイバが断線しても誤判定がない。
請求項（抜粋）：
平行な2本の光ファイバの途中にそれぞれ複数の光分岐器を設け、物理量変化により光損失等が変化する光式物理量センサを両光ファイバの相対応する光分岐器間に接続し、一方の光ファイバの一端に光パルスを発する光源を接続し、他方の光ファイバの一端に光受光器を接続した光ファイバ式多点型物理量検出装置において、両光ファイバの光分岐器間の少なくとも一か所は光パルスよりも低いレベルの光パルスを透過させる部分及びノイズレベルよりも高いレベルの光パルスを透過させる部分のいずれか或いは両方としたことを特徴とする光ファイバ式多点型物理量検出装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01K 11/12 F
, G01N 21/59 M
