特許

J-GLOBAL ID：200903012603299411

位相差顕微鏡装置

発明者： 吉武 玲
出願人/特許権者： ソニー株式会社
代理人 (1件)： 小池 晃 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-117095
公開番号（公開出願番号）：特開平7-318806
出願日： 1994年05月30日
公開日（公表日）： 1995年12月08日
要約：

【要約】【目的】 レンズの倍率変更や反転処理が容易で、無色透明な標本を染色せず観察できる位相差顕微鏡装置を提供する。【構成】 透過光21はレーザ発振器1から発生したレーザ光20のうち対物レンズ7に到達する光で、被検体13を透過し、被検体13上で透過光21の光軸に直交する方向に走査される。レーザ光20と同じ位相をもつ参照光22は参照光集光レンズ4に到達する光である。透過光21は被検体13を透過する際位相変化が起こり、参照光22と干渉して受光素子12上で干渉像を形成する。受光素子12で得た干渉像は画像処理装置15にて処理され標本画像となり、モニタ18で出力される。

請求項（抜粋）：

光源からの光を標本に透過させ、その透過光の位相変化を利用し、標本の画素情報を得る光学顕微鏡装置であって、上記標本に対して光源からの光を光軸に直交する方向に走査する透過光走査手段と、上記光源と同波長の基準となる参照光と上記透過光とに基づいて、上記位相変化で生じる位相差を検出する位相差検出手段と、上記透過光走査手段を制御する制御手段とを有することを特徴とする位相差顕微鏡装置。