特許

J-GLOBAL ID：200903012741711730

印鑑照合方法および印鑑照合装置

発明者： 永井 靖泰
出願人/特許権者： 三洋電機株式会社
代理人 (1件)： 香山 秀幸
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-193121
公開番号（公開出願番号）：特開平9-044664
出願日： 1995年07月28日
公開日（公表日）： 1997年02月14日
要約：

【要約】【課題】 この発明は、処理時間の短縮化が図れる印鑑照合方法および印鑑照合装置を提供することを目的とする。【解決手段】 印鑑照合方法において、原印影画像を、原印影画像の中心位置を中心とする回転角度に関するパラメータを第1軸とし、原印影画像の中心位置からの距離に関するパラメータを第2軸とするXY座標系の第1の画像に変換する第1ステップ、被照合印影画像を、被照合印影画像の中心位置を中心とする回転角度に関するパラメータを第1軸とし、被照合印影画像の中心位置からの距離に関するパラメータを第2軸とするXY座標系の第2の画像に変換する第2ステップ、ならびに第1の画像および第2の画像のうちの一方の画像を第1軸方向に所定量ずつシフトさせ、各シフト位置での一方の画像と、他方の画像との類似度をそれぞれ算出し、算出された類似度に基づいて原印影画像と被照合印影画像とが一致するか否かを判定する第3ステップを備えている。

請求項（抜粋）：

原印影画像と、被照合印影画像とに基づいて、原印影画像と被照合印影画像とが一致するか否かを判定する印鑑照合方法において、原印影画像を、原印影画像の中心位置を中心とする回転角度に関するパラメータを第1軸とし、原印影画像の中心位置からの距離に関するパラメータを第2軸とするXY座標系の第1の画像に変換する第1ステップ、被照合印影画像を、被照合印影画像の中心位置を中心とする回転角度に関するパラメータを第1軸とし、被照合印影画像の中心位置からの距離に関するパラメータを第2軸とするXY座標系の第2の画像に変換する第2ステップ、ならびに第1の画像および第2の画像のうちの一方の画像を第1軸方向に所定量ずつシフトさせ、各シフト位置での一方の画像と、他方の画像との類似度をそれぞれ算出し、算出された類似度に基づいて原印影画像と被照合印影画像とが一致するか否かを判定する第3ステップ、を備えていることを特徴とする印鑑照合方法。