表示装置の検査方法

発明者： , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：鈴江武彦 (外6名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-001054
公開番号（公開出願番号）：特開2001-195033
出願日： 2000年01月06日
公開日（公表日）： 2001年07月19日
要約：

【要約】【課題】画素の高精細化が可能な表示装置の短絡及び断線を検査する検査方法であって、検査用回路のコストをアップすることなくメンテナンスが容易な表示装置の検査方法を提供することを目的とする。【解決手段】互いに隣接する第1信号線X1及び第2信号線X2をペアとし、一信号線選択期間において、検査用回路900のCPU901は、書込回路902を制御して、選択回路170のスイッチSW1が選択した第1信号線X1に対してアナログ信号を書き込む。次の信号線選択期間において、CPU901は、読取回路903を制御して、スイッチSW1が選択した第2信号線X2からの出力信号を読み取る。CPU901は、第2信号線X2からの出力信号に基づいて、ペアの信号線間の短絡を検出する。

請求項（抜粋）：

基板上に互いに直交して配列された複数のゲート線及び複数の信号線と、ゲート線と信号線とのそれぞれの交差部に配置されたトランジスタと、各トランジスタに電気的に接続された画素電極と、駆動ICから出力されたアナログ信号が入力される複数の入力端子と、各前記入力端子から入力されたアナログ信号を対応する複数の信号線からなる信号線群の少なくとも一つの信号線に順次振り分ける選択手段と、を備えたアレイ基板を有する表示装置の検査方法において、前記入力端子に検査用回路のプローブを電気的に接続し、複数の前記信号線群のうちの一信号線を選択する第1信号線選択期間において、前記一信号線にアナログ信号を書き込み、前記第1信号線選択期間に続くタイミングで、前記信号線群のうちの他の一信号線を選択する第2信号線選択期間において、前記他の一信号線からアナログ信号を読み取り、読み取ったアナログ信号に基づいて、前記一信号線と前記他の一信号線との間の短絡を検査する、ことを特徴とする表示装置の検査方法。

IPC (7件)：

G09G 3/20 670 , G01R 31/02 , G02F 1/133 550 , G02F 1/1345 , G02F 1/1368 , G09F 9/00 352 , G09G 3/36

FI (7件)：

G09G 3/20 670 Q , G01R 31/02 , G02F 1/133 550 , G02F 1/1345 , G09F 9/00 352 , G09G 3/36 , G02F 1/136 500

Fターム (56件)：

2G014AA02 , 2G014AA03 , 2G014AB20 , 2G014AC09 , 2G014AC10 , 2H092GA50 , 2H092JA24 , 2H092JB01 , 2H092JB22 , 2H092JB31 , 2H092JB77 , 2H092KA04 , 2H092MA57 , 2H092NA30 , 2H093NA16 , 2H093NA31 , 2H093NC09 , 2H093NC11 , 2H093NC16 , 2H093NC34 , 2H093NC59 , 2H093ND56 , 5C006AA01 , 5C006AA16 , 5C006AF42 , 5C006AF44 , 5C006AF51 , 5C006AF53 , 5C006AF83 , 5C006BB16 , 5C006BC03 , 5C006BC12 , 5C006BC20 , 5C006BC23 , 5C006BF03 , 5C006BF15 , 5C006BF24 , 5C006BF31 , 5C006EB01 , 5C006FA42 , 5C006FA51 , 5C080AA10 , 5C080BB05 , 5C080DD15 , 5C080DD23 , 5C080DD27 , 5C080FF11 , 5C080JJ02 , 5C080JJ04 , 5G435AA19 , 5G435BB12 , 5G435CC09 , 5G435EE30 , 5G435EE37 , 5G435EE46 , 5G435KK10

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