特許
J-GLOBAL ID:200903012787919867
金属陽イオン錯体及びその用途
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
長谷川 曉司
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平10-165073
公開番号(公開出願番号):特開平11-060725
出願日: 1998年06月12日
公開日(公表日): 1999年03月05日
要約:
【要約】【課題】 金属陽イオンを高濃度で有機高分子材料、溶剤や血流中に安定に分散させることができる金属陽イオン錯体を提供する。【解決手段】 一般式Mn + (RA- )n で表わされる金属陽イオン錯体。(式中、Mn + は金属陽イオンを表し、nは該陽イオンの価数を表す整数であり、RA- は一価の陰イオンを表わし、Rは分岐高分子残基を表わし、A- はβ-ジケトネート基を表わす。また、RA- に対応する一般式RAで表わされるβ-ジケトン基を有する分岐高分子は、ゲルパーミエーションクロマトグラフィ(GPC)法で測定される数平均分子量Mn(GPC) と重量平均分子量Mw(GPC) との間において、500≦Mn(GPC) ≦50000及び1.0≦Mw(GPC) /Mn(GPC) ≦15なる二つの関係を同時に満たす)
請求項(抜粋):
一般式Mn+(RA- )n で表わされる金属陽イオン錯体。(式中、Mn+は金属陽イオンを表し、nは該陽イオンの価数を表す整数であり、RA- は一価の陰イオンを表わし、Rは分岐高分子残基を表わし、A- はβ-ジケトネート基を表わす。また、RA- に対応する一般式RAで表わされるβ-ジケトン基を有する分岐高分子は、ゲルパーミエーションクロマトグラフィ(GPC)法で測定される数平均分子量Mn(GPC) と重量平均分子量Mw(GPC) との間において、300≦Mn(GPC) ≦50000及び1.0≦Mw(GPC) /Mn(GPC) ≦15なる二つの関係を同時に満たす)
IPC (4件):
C08G 65/32
, A61K 49/00
, A61K 49/04
, C08L101/00
FI (4件):
C08G 65/32
, A61K 49/00 C
, A61K 49/04 F
, C08L101/00
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