特許

J-GLOBAL ID：200903012805380156

つや計

発明者： 豊 田 誠 ,  中 條 清 和 ,  三 澤 宏 至
出願人/特許権者： 株式会社モリテックス
代理人 (1件)： 澤野 勝文 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-200680
公開番号（公開出願番号）：特開2001-027604
出願日： 1999年07月14日
公開日（公表日）： 2001年01月30日
要約：

【要約】【課題】髪,肌,繊維,布などの被検体の表面性状に起因するつやを、その正反射光強度と乱反射光強度に基づいて定量的に測定できるようにする。【解決手段】正反射用光源(L1)及び乱反射用光源(L2)を順次点灯させると、測定ポイント(P)に配されたキャリブレーション用受光素子(Dc)により各光源(L1,L2)の照射光強度の違いが測定され、次に、被検体を測定ポイントにおいて各光源(L1,L2)を順次点灯させると、正反射用光源(L1)の照射光の反射光軸(X3)上に配された測定用受光素子(Dm)で、正反射光強度及び乱反射光強度が測定される。これら各反射光強度に基づいてつや値を算出する場合に、各反射光強度は一つの受光素子(Dm)で測定され、また、各反射光強度を各照射光強度の違いに基づいて補正することとしたので、測定誤差をほとんど生じない。

請求項（抜粋）：

被検体を位置させる測定ポイント(P)に対して異なる角度で光を照射する正反射用光源(L1 )及び乱反射用光源(L2 )が配され、前記測定ポイント(P)に、各光源(L1 ,L2 )からの照射光を受光してその照射光強度を測定するキャリブレーション用受光素子(Dc)が配されると共に、測定ポイント(P)に被検体を位置させたときに当該被検体で正反射される前記正反射用光源(L1 )の反射光軸(X3 )上に被検体からの反射光の光強度を測定する測定用受光素子(Dm)が配され、前記各光源(L1 ,L2 )を順次点灯させることにより前記キャリブレーション用受光素子(Dc)に光を直接照射させて夫々の照射光強度を測定し、被検体を測定ポイント(P)に位置させた状態で前記各光源(L1 ,L2 )を順次点灯させることにより測定用受光素子(Dm)で正反射光強度及び乱反射光強度を測定し、当該正反射光強度と乱反射光強度を前記各照射光強度で補正して比較することにより反射光強度比較値を算出し、予め設定した反射光強度比較値-つや値変換テーブルを参照して反射光強度比較値に対応するつや値を読みだし、その値を表示させる制御装置(8)を備えたことを特徴とするつや計。

Fターム (7件)：

2G059AA02 ,  2G059EE02 ,  2G059FF08 ,  2G059GG03 ,  2G059MM10 ,  2G059MM12 ,  2G059PP04