特許

J-GLOBAL ID：200903012816273181

画素欠陥検出方法及び画像処理装置

発明者： 渡辺 透 ,  寺谷 昌人
出願人/特許権者： 三洋電機株式会社
代理人 (1件)： 芝野 正雅
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-287117
公開番号（公開出願番号）：特開2001-111893
出願日： 1999年10月07日
公開日（公表日）： 2001年04月20日
要約：

【要約】【課題】 画像信号に含まれる画素欠陥を効率よく検出する。【解決手段】 目標画素P0に隣接する周辺画素P1〜P8の画像信号Y(P1)〜Y(P8)から、平均レベルLav、最大レベルLmax、最小レベルLminを生成する。最大レベルLmaxと最小レベルLminとの差ΔLを、平均レベルLavに加算して白欠陥の判定基準値Lwを生成し、平均レベルLavから減算して黒欠陥の判定基準値Lbを生成する。そして、各判定基準値Lw、Lbを目標画素の画像信号Y(P0)と比較し、画素欠陥を判別する。

請求項（抜粋）：

1画面の画像信号に含まれる画素欠陥を検出する検出方法であって、目標画素に隣接する複数の周辺画素の平均レベルを算出するステップと、上記複数の周辺画素の最大レベル及び最小レベルを検出するステップと、上記最大レベルと上記最小レベルとの差を上記平均レベルに加算して第1の判定基準値とし、上記最大レベルと上記最小レベルとの差を上記平均レベルから減算して第2の判定基準値とするステップと、を有し、目標画素のレベルが上記第1の判定基準値よりも大きいとき、あるいは、上記第2の判定基準値よりも小さいとき、その目標画素を欠陥画素と判定することを特徴とする画素欠陥検出方法。

IPC (3件)：

H04N 5/335 ,  G06T 1/00 ,  H04N 1/40

FI (4件)：

H04N 5/335 P ,  G06F 15/64 400 E ,  G06F 15/64 400 M ,  H04N 1/40 101 Z

Fターム (31件)：

5B047AB02 ,  5B047BB04 ,  5B047CB05 ,  5B047DA06 ,  5B047DC02 ,  5B047DC11 ,  5C024AA01 ,  5C024CA09 ,  5C024FA01 ,  5C024GA11 ,  5C024HA00 ,  5C024HA01 ,  5C024HA11 ,  5C024HA12 ,  5C024HA18 ,  5C024HA23 ,  5C077LL02 ,  5C077LL11 ,  5C077MM03 ,  5C077PP05 ,  5C077PP10 ,  5C077PP43 ,  5C077PP46 ,  5C077PP52 ,  5C077PP53 ,  5C077PP54 ,  5C077PP68 ,  5C077PQ12 ,  5C077PQ18 ,  5C077PQ20 ,  5C077PQ22

引用特許：

出願人引用 (2件)

• 固体撮像デバイスの欠陥補償器
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-209404   出願人：エルジイ・セミコン・カンパニイ・リミテッド
• 画素信号処理装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-158168   出願人：富士フイルムマイクロデバイス株式会社, 富士写真フイルム株式会社

審査官引用 (2件)

• 固体撮像デバイスの欠陥補償器
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-209404   出願人：エルジイ・セミコン・カンパニイ・リミテッド
• 画素信号処理装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-158168   出願人：富士フイルムマイクロデバイス株式会社, 富士写真フイルム株式会社