特許
J-GLOBAL ID：200903012826710792
自動開閉装置の検査装置
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
北村 欣一 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-273229
公開番号（公開出願番号）：特開平6-288875
出願日： 1992年10月12日
公開日（公表日）： 1994年10月18日
要約：
【要約】【目的】 サンルーフやパワウィンド等の自動開閉装置の検査を自動的に行ない、且つ異常箇所を容易に特定できるようにする。【構成】 検査装置2に、自動開閉装置1のモータ1aを駆動するモータ駆動部4と、モータ1aの負荷を測定する負荷測定部5、判別基準データを格納した記憶部6と、モータ負荷の測定データと基準データとを比較する判定部7と、プログラム設定部8とを設ける。該設定部8において、判定部7での両データの比較を行う判別タイミングを開閉装置1の動作量を表わす、例えば動作時間や動作ストローク等のパラメータの所定の単位間隔で分割設定する。各判別タイミング毎に両データを比較し異常の有無を判別する。どの判別タイミングで異常になったかで異常発生箇所を特定できる。
請求項（抜粋）：
モータによって開閉動作される自動開閉装置の検査装置であって、モータを駆動して自動開閉装置を動作させるモータ駆動部と、モータ負荷を測定する測定部と、モータ負荷の判別基準データを格納した記憶部と、モータ負荷の測定データと判別基準データとを比較して自動開閉装置の良否を判定する判定部と、判定部での測定データと判別基準データとの比較を行う判別タイミングを自動開閉装置の動作量を表わすパラメータの所定の単位間隔で分割設定するプログラム設定部とを備えることを特徴とする自動開閉装置の検査装置。
IPC (6件)：
G01M 17/00
, B60J 1/17
, B60J 7/00
, E05F 15/10
, G01M 13/00
, G05B 23/00
