特許
J-GLOBAL ID：200903012864753977
電気信号測定方法および装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
工業技術院電子技術総合研究所長
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-291884
公開番号（公開出願番号）：特開平8-146066
出願日： 1994年11月28日
公開日（公表日）： 1996年06月07日
要約：
【要約】【目的】 電気回路上の電界ベクトルの複数ベクトル成分を高時間分解能で高精度に測定可能にする。【構成】 測定装置はレーザ、光学素子、電気光学結晶、光電変換素子、電気回路からなる。電気光学結晶43には電界による光学的主軸方向の屈折率変化と光学的主軸方向変化の2つの効果を持つものを選び、被測定電気回路44が発生する電界中に置かれる。レーザ光は電気光学結晶に入射され、結晶を通過した反射光は2つの偏光方向に分解されて、各々光電変換素子52,53により光電変換される。電気出力の差分信号が測定信号である。光学素子である半波長板46によりレーザ光の偏光方向を2つ選ぶことで、結晶の屈折率変化と光学的主軸方向変化に対応した2信号が得られる。上記2信号の一次結合から、電界ベクトルの2成分が求まる。【効果】 測定の再現性・精度を劣化させることなく、複数方向の電界成分が電気光学結晶を機械的に動かすことなく測定可能。
請求項（抜粋）：
電気光学結晶の光学的性質が電界の存在により変化することを利用して、該電気光学結晶に隣接して配置された電気回路から発生する電界もしくは該電気回路中の2点の電圧を検知することで電気信号を測定する電気信号測定方法において、偏光状態が明確に規定された光パルスを前記電気光学結晶の無電界条件での光学的主軸のうちの1つに並行になる方向で該電気光学結晶に入射させ、該電気光学結晶を通過して反射もしくは透過した光の偏光状態を測定するに際して、前記電気光学結晶を機械的に動かすことなく半波長板と偏光子を用いて入射光の偏光状態として2つの異なる状態における測定を行うステップと、該2つの異なる状態における測定の結果から前記電気光学結晶中の電界ベクトルの3成分のうちの2成分をそれぞれ求めるステップとからなることを特徴とする電気信号測定方法。
IPC (4件)：
G01R 29/14
, G01R 15/24
, G01R 19/00
, G01R 31/302
G01R 15/07 C
, G01R 31/28 L
