特許

J-GLOBAL ID：200903012865290830

電子部品の外観検査装置および外観検査方法

発明者： 小池 慎太郎 ,  久保 昌幸
出願人/特許権者： 株式会社村田製作所
代理人 (1件)： 原 謙三
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-333367
公開番号（公開出願番号）：特開2003-139516
出願日： 2001年10月30日
公開日（公表日）： 2003年05月14日
要約：

【要約】【課題】 設備サイズを小型化(省スペース)が可能であり、かつ、より正確に電子部品の最外形を検査することができる電子部品の外観検査装置および外観検査方法を提供する。【解決手段】 外観検査装置は、チップ部品11を供給するフィーダーと、フィーダーからの上記チップ部品11を搬送する透明円板2と、搬送されているチップ部品11の撮像を行う撮像部6と、上記撮像部6で撮像された画像データから判定したチップ部品11の良否に基づいて、チップ部品11を選別する選別機構とを備えている。そして、上記撮像部6は、搬送されてきた各チップ部品11を挟んで光軸が互いに対向している二つのカメラ17a・17b、各カメラ17a・17bの視野に照明光が入らない位置に設置されて上記チップ部品11を照明する照明部18a・18bをそれぞれのカメラ17a・17bに対して備えている。

請求項（抜粋）：

電子部品を供給する供給部と、供給部からの上記電子部品を搬送する搬送部と、搬送されている電子部品の撮像を行う撮像部と、上記撮像部で撮像された画像データから判定した電子部品の良否に基づいて、電子部品を選別する選別機構とを備えている外観検査装置であって、上記撮像部は、搬送されてきた各電子部品を挟んで光軸が互いに対向している二つのカメラ、各カメラの視野に照明光が入らない位置に設置されて上記電子部品を照明する照明部をそれぞれのカメラに対して備えていることを特徴とする外観検査装置。

IPC (2件)：

G01B 11/24 ,  G01N 21/956

FI (2件)：

G01N 21/956 B ,  G01B 11/24 H

Fターム (32件)：

2F065AA21 ,  2F065AA49 ,  2F065AA61 ,  2F065BB05 ,  2F065CC25 ,  2F065DD02 ,  2F065FF04 ,  2F065FF42 ,  2F065GG03 ,  2F065GG08 ,  2F065GG17 ,  2F065HH02 ,  2F065HH13 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ05 ,  2F065JJ09 ,  2F065JJ26 ,  2F065PP13 ,  2F065QQ31 ,  2F065SS04 ,  2G051AA01 ,  2G051AA61 ,  2G051AB08 ,  2G051BC02 ,  2G051CA04 ,  2G051CA08 ,  2G051CB01 ,  2G051CB02 ,  2G051DA01 ,  2G051DA06 ,  2G051DA13 ,  2G051DA17