特許
J-GLOBAL ID：200903012869433776
磁気計測方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
最上 正太郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-045651
公開番号（公開出願番号）：特開平5-248806
出願日： 1992年03月03日
公開日（公表日）： 1993年09月28日
要約：
【要約】 (修正有)【目的】 計測すべき任意の物体に直接適用して磁気的計測が可能な方法を提供する。【構成】 磁気目盛をこれに対向させた磁気ヘッドで読み取って両者間の相対移動を計測する磁気計測方法において、計測すべき物体3 上にその相対移動方向に沿って直接部分的に磁気的諸特性向上のための表面処理部分3aを形成し、表面処理部分に磁気目盛を着磁、記録し、この計測すべき物体上に直接記録された磁気目盛を磁気ヘッドで読み取るよう構成した。磁気的諸特性向上のための表面処理としては、窒化、炭化、硼化、鉄化、希土化又はそれらの複合処理が利用でき、又、その表面処理の手段としては、レーザや放電溶着加工を利用することができる。又、磁気的諸特性向上のための表面処理を、磁気目盛を記録するための磁場中で行なうようにすることも推奨される。
請求項（抜粋）：
磁気目盛をこれに対向させた磁気ヘッドで読み取って両者間の相対移動を計測する磁気計測方法において、計測すべき物体(3) 上にその相対移動方向に沿って直接部分的に磁気的諸特性向上のための表面処理(3a)を施し、上記表面処理部分に磁気目盛を着磁、記録し、この計測すべき物体上に直接記録された磁気目盛を磁気ヘッドで読み取るよう構成したことを特徴とする磁気計測方法。
IPC (2件)：
G01B 7/00
, G01D 5/245 101
