特許

J-GLOBAL ID：200903012966274143

特徴点抽出装置

発明者： 野島 俊一
出願人/特許権者： アジアエレクトロニクス株式会社
代理人 (1件)： 鈴江 武彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-163196
公開番号（公開出願番号）：特開平9-015165
出願日： 1995年06月29日
公開日（公表日）： 1997年01月17日
要約：

【要約】【目的】濃度のばらつきをもつ背景画像の中から特徴点のみを抽出する。【構成】カメラ14を用いて、ICパッケ-ジ15の表面を単一色の濃度の濃淡で表すと、一定の濃度のばらつきを有する背景画像と背景画像の濃度に対して極端に異なる濃度を有する特徴点が得られる。そこで、背景画像の各画素の濃度の平均値AVE及び背景画像の各画素の濃度の平均値AVEからのばらつき量STD(標準偏差σ×補正量n)を算出する。そして、濃度値が平均値AVEからばらつき量STDを引いた値よりも小さい画素、及び濃度値が平均値AVEにばらつき量STDを加えた値よりも大きい画素を最大濃度(255)とし、その他の画素を最小濃度(0)とする2値化を行う。

請求項（抜粋）：

被検査物を単一色の濃淡画像で表し、一定の濃度のばらつきを有する背景画像と前記背景画像の濃度に対して極端に異なる濃度を有する特徴点を得るための手段と、前記背景画像の各画素の濃度の平均値AVE及び前記背景画像の各画素の濃度の平均値AVEからのばらつき量STDを算出する手段と、濃度値が前記平均値AVEから前記ばらつき量STDを引いた値よりも小さい画素、及び濃度値が前記平均値AVEに前記ばらつき量STDを加えた値よりも大きい画素を第一濃度とし、その他の画素を第二濃度とする2値化を行い、前記背景画像の中から特徴点のみを抽出する手段とを具備することを特徴とする特徴点抽出装置。

IPC (3件)：

G01N 21/88 ,  G01B 11/30 ,  G06T 7/60

FI (4件)：

G01N 21/88 J ,  G01N 21/88 E ,  G01B 11/30 G ,  G06F 15/70 365

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 凹凸欠点検査方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-034799   出願人：株式会社イナックス
• 特開昭63-220375