特許

J-GLOBAL ID：200903012969182800

品質検査装置

発明者： 金川 正人 ,  高居 茂雄 ,  松井 真人 ,  氷上 好孝
出願人/特許権者： ダックエンジニアリング株式会社
代理人 (1件)： 三宅 景介
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-191404
公開番号（公開出願番号）：特開2002-008428
出願日： 2000年06月26日
公開日（公表日）： 2002年01月11日
要約：

【要約】【課題】 照明光の出射面に付着する汚損物質を簡単に除去することができて検査作業能率を向上させることができ、また、照明光源をその寿命まで使用することができて経済性の向上を図ることができる。【解決手段】 被検査物の被検査面を照明するための照明光を出射し得る照明光源である蛍光灯14、15における少なくとも照明光の出射面を汚損防止し得るように防汚カバー20で交換可能に被覆する。

請求項（抜粋）：

被検査物の被検査面を照明するための照明光を出射し得る照明光源を有する照明手段と、この照明手段における少なくとも照明光の出射面を汚損防止し得るように交換可能に被覆する光透過性の防汚カバーとを備えた品質検査装置。

IPC (9件)：

F21V 17/00 330 ,  F21V 3/00 ,  G01N 21/15 ,  G01N 21/84 ,  G01N 21/892 ,  G06T 1/00 400 ,  G06T 1/00 420 ,  B41F 33/14 ,  F21Y103:00

FI (9件)：

F21V 17/00 330 T ,  F21V 3/00 J ,  G01N 21/15 ,  G01N 21/84 E ,  G01N 21/892 A ,  G06T 1/00 400 E ,  G06T 1/00 420 F ,  F21Y103:00 ,  B41F 33/14 G

Fターム (25件)：

2C250EB39 ,  2C250EB43 ,  2C250EB45 ,  2G051AA34 ,  2G051AA40 ,  2G051AB02 ,  2G051AB11 ,  2G051AC21 ,  2G051BA01 ,  2G051BC09 ,  2G051CA04 ,  2G051CB01 ,  2G051EA16 ,  2G051EB01 ,  2G051EB02 ,  2G057AB01 ,  2G057AB07 ,  2G057BB06 ,  2G057JA03 ,  2G057JB10 ,  3K011EM00 ,  5B047AA01 ,  5B047AA30 ,  5B047BC11 ,  5B047CA19