特許

J-GLOBAL ID：200903013023945452

物理量解析方法およびその装置

発明者： 上田 智章
出願人/特許権者： ダイキン工業株式会社
代理人 (1件)： 津川 友士
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-336012
公開番号（公開出願番号）：特開平5-094543
出願日： 1991年11月25日
公開日（公表日）： 1993年04月16日
要約：

【要約】【目的】 構成を簡素化し、かつ少ない学習回数で測定値に基づく物理源の物理量の解析を行なう。【構成】 既知の情報に基づいて複数の物理公式演算ユニット11,12,・・・1mにより、物理量に基づいて主要部が定められている物理公式の演算を行ない、シグマ・ユニット2により累積加算して誤差演算器3により実際の測定値との差を算出し、物理公式演算ユニット11,12,・・・1mの補正部11a,12a,・・・1maにより物理公式に含まれる変数を上記差が小さくなるように補正する。上記一連の処理を必要回数だけ反復した後に、情報収集ユニット4により補正された変数を収集して物理量解析結果として出力する。

請求項（抜粋）：

個々の物理源から離れた任意箇所において測定可能な物理量が物理源の物理量と観測条件とを含む所定の演算式に基づいて算出可能であるとともに、複数の物理源から離れた任意箇所において測定可能な物理量に線形加算性が成立する場合に物理源の物理量を物理源から離れた所定箇所において測定された物理量に基づいて解析する方法であって、既知の情報に基づいて物理量の種類に対応して定まる複数の演算式の演算を行ない、各演算式の演算結果を累積加算して得られる値と測定した物理量との差を算出し、算出した差に基づいて各演算式に含まれる複数の変数を補正し、差が十分に小さくなるまで上記一連の処理を反復してから各物理公式に含まれる補正された変数を物理量解析結果として出力することを特徴とする物理量解析方法。

IPC (6件)：

G06F 15/74 330 ,  A61B 5/05 ,  G01N 27/72 ,  G01N 33/533 ,  G01R 33/02 ,  G01R 33/035 ZAA