特許
J-GLOBAL ID：200903013028478526
蛍光X線分析装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
藤本 英夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-023186
公開番号（公開出願番号）：特開平5-188018
出願日： 1992年01月12日
公開日（公表日）： 1993年07月27日
要約：
【要約】【目的】 X線管の劣化度、交換時期、寿命か否かなどを日常の分析業務において確実に把握できる蛍光X線分析装置を提供すること。【構成】 グリッド18の制御格子電圧G1 を常時モニタリングできるようにした。
請求項（抜粋）：
熱陰極によって発せられる熱電子をグリッドによって制御しながらターゲットに衝突させることにより、一次X線を発生させるようにしたX線管を備えた蛍光X線分析装置において、前記グリッドの制御格子電圧を常時モニタリングできるようにしたことを特徴とする蛍光X線分析装置。
引用特許：
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