特許
J-GLOBAL ID：200903013082862277
三次元計測法および三次元計測装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
永井 冬紀
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-059121
公開番号（公開出願番号）：特開2002-257527
出願日： 2001年03月02日
公開日（公表日）： 2002年09月11日
要約：
【要約】【課題】 凹凸の大きな被測定物体であっても容易に三次元形状が計測できる三次元計測装置の提供。【解決手段】 互いに平行な複数の直線パターンから成る格子パターンP’をワーク6に投影し、ワーク6を移動装置7によりx方向に移動させつつラインセンサ4で撮像する。このとき、撮像領域10とパターンP’とが交差した部分のパターンもラインセンサ4により撮像される。この撮像されたパターンの画像は、ワーク6の画像上に縞模様として撮影される。この縞模様に歪みを演算部111で算出することにより、ワーク6の表面形状を計測することができる。さらに、角度変更機構12により格子パターンPの角度を変えて投影格子パターンP’の角度θを変えることにより、高さ計測の解像度を変更することができる。
請求項（抜粋）：
互いに平行な複数の直線パターンから成る格子パターンを被測定物体に投影し、前記投影された格子パターンおよびラインセンサを前記被測定物体に対して一体で相対移動させつつ前記投影された格子パターンを前記ラインセンサで撮像し、撮像された画像中の前記格子パターンの画像に基づいて前記被測定物体の三次元形状を計測することを特徴とする三次元計測法。
Fターム (17件)：
2F065AA04
, 2F065AA53
, 2F065DD03
, 2F065FF07
, 2F065FF65
, 2F065GG02
, 2F065GG04
, 2F065HH05
, 2F065JJ02
, 2F065JJ25
, 2F065LL28
, 2F065LL41
, 2F065MM03
, 2F065PP12
, 2F065QQ21
, 2F065QQ29
, 2F065QQ32
