特許

J-GLOBAL ID：200903013146148808

はんだ検査装置

発明者： 石羽 正人
出願人/特許権者： オムロン株式会社
代理人 (1件)： 青木 輝夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-165603
公開番号（公開出願番号）：特開2000-004079
出願日： 1998年06月12日
公開日（公表日）： 2000年01月07日
要約：

【要約】【課題】 プリント基板上に印刷されたクリーム状はんだの印刷状態の良否を検査し、その検査結果から印刷不良箇所の印刷状態および不良内容を詳細に表示することができるはんだ検査装置を提供することを目的とする。【解決手段】 プリント基板を撮像して得られる画像データに基づきプリント基板に印刷されたはんだの印刷状態を検査するはんだ検査装置において、複数のはんだ印刷箇所の検査結果に基づいて指定された印刷不良箇所の印刷状態の画像および不良内容を表示する画像表示手段を備えるものである。

請求項（抜粋）：

プリント基板を撮像して得られる画像データに基づき前記プリント基板に印刷されたはんだの印刷状態を検査するはんだ検査装置において、複数のはんだ印刷箇所の検査結果に基づいた指定された印刷不良箇所の印刷状態の画像および不良内容を表示する画像表示手段を備えることを特徴とするはんだ検査装置。

IPC (2件)：

H05K 3/34 512 ,  G01N 21/88

FI (2件)：

H05K 3/34 512 A ,  G01N 21/88 F

Fターム (20件)：

2G051AA61 ,  2G051AA65 ,  2G051AB11 ,  2G051AB14 ,  2G051BA01 ,  2G051CA03 ,  2G051CA04 ,  2G051CB01 ,  2G051CD04 ,  2G051DA06 ,  2G051EA11 ,  2G051EA12 ,  2G051EA14 ,  2G051EA17 ,  2G051EB01 ,  2G051EB02 ,  2G051FA04 ,  5E319BB05 ,  5E319CD29 ,  5E319CD53