特許

J-GLOBAL ID：200903013187116430

2回光反射による絶対反射率の測定方法

発明者： 川手 悦男
出願人/特許権者： 工業技術院長
代理人 (1件)： 工業技術院計量研究所長
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-297758
公開番号（公開出願番号）：特開平10-123049
出願日： 1996年10月21日
公開日（公表日）： 1998年05月15日
要約：

【要約】【課題】 不透明体を対象とする高感度で高精度な絶対反射率の測定方法を提供する。【解決手段】 不透明体の平板状試料17に対する高出力レーザの出力光12のみによる試料温度上昇ΔTac(1) と、出力光12とその反射光12aの試料に対する再入射とによる試料17の温度上昇ΔTac(2) を測定し、試料17の絶対反射率Rを、R=(ΔTac(2) -ΔTac(1) )/ΔTac(1) により求める。反射光12aの試料17に対する再入射は、シャッター19を前置した凹面鏡20により行う。

請求項（抜粋）：

不透明体の平板状試料に対する高出力光源からの出力光のみの照射による試料温度上昇ΔTac(1) と、上記出力光とその反射光の試料への再入射とによる試料温度上昇ΔTac(2) を、上記試料に熱接触させた温度計で測定し、これらの温度上昇に基づき、試料の絶対反射率Rを、R=(ΔTac(2) -ΔTac(1) )/ΔTac(1)により求めることを特徴とする2回光反射による絶対反射率の測定方法。