特許

J-GLOBAL ID：200903013219487800

液晶の配向処理方法

発明者： 羽生 由紀夫 ,  伊藤 靖浩 ,  棟方 博英 ,  武田 恭明 ,  浅尾 恭史
出願人/特許権者： キヤノン株式会社
代理人 (1件)： 近島 一夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-121767
公開番号（公開出願番号）：特開平8-313914
出願日： 1995年05月19日
公開日（公表日）： 1996年11月29日
要約：

【要約】【目的】黄変の発生及び配向欠陥の発生を防止し、かつ歩留りを向上させる。【構成】液晶表示素子Pを作成した後の欠陥検知工程においては、液晶表示素子Pを30°以下の低温度で駆動し、配向欠陥の有無及び発生箇所を調べる。そして、配向欠陥が有った場合には、部分加熱エージング工程を施し、配向欠陥が発生した箇所を部分的に加熱し、液晶がCh相に相転移するようにする。その後、液晶を徐冷し、液晶表示素子Pを駆動しても、配向欠陥の発生は解消される。このように部分加熱エージング工程を施すことによって配向欠陥の発生が解消されることから、プレチルト角αを小さく設定でき、そのために液晶分子の移動現象(黄変の発生)を防止できる。また、配向欠陥や黄変の発生を防止して歩留りが向上される。

請求項（抜粋）：

液晶素子に注入した液晶の配向を行なう、液晶の配向処理方法において、液晶素子を30°以下の低温度で駆動して配向欠陥の有無及び発生箇所を調べる欠陥検知工程と、該欠陥検知工程後に、配向欠陥発生箇所を部分的に加熱する部分加熱エージング工程と、を備え、かつ、該部分加熱エージングによって前記液晶をCh相まで加熱する、ことを特徴とする液晶の配向処理方法。

IPC (2件)：

G02F 1/1337 510 ,  G02F 1/1343

FI (2件)：

G02F 1/1337 510 ,  G02F 1/1343