特許

J-GLOBAL ID：200903013329553469

発振素子の周波数経時変化の測定方法およびその装置

発明者： 桃崎 英司 ,  小林 祥宏
出願人/特許権者： セイコーエプソン株式会社
代理人 (1件)： 鈴木 喜三郎 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-120650
公開番号（公開出願番号）：特開平9-304448
出願日： 1996年05月15日
公開日（公表日）： 1997年11月28日
要約：

【要約】【課題】 短時間に、かつ、確実に水晶振動子の周波数経時変化を測定できる測定方法およびその測定装置を提供する。【解決手段】 周波数経時変化を生ずる発振素子(例えば水晶振動子)の周波数経時変化の測定方法であって、発振素子の基準周波数に対する発振周波数の経時変化特性に基づいて(S1)、当該発振素子の周波数経時変化に影響を与える要因ごとに、経過時間のべき乗に対応した周波数経時変化特性を求め(S3〜S5)、当該要因ごとの周波数経時変化特性に基づいて、当該発振素子の周波数経時変化特性の評価式を計算する(S6〜S11)。

請求項（抜粋）：

周波数経時変化を生ずる発振素子の周波数経時変化の測定方法であって、前記発振素子の基準周波数に対する発振周波数の経時変化特性に基づいて、当該発振素子の周波数経時変化に影響を与える要因ごとに、経過時間のべき乗に対応した周波数経時変化特性を求め、当該要因ごとの周波数経時変化特性に基づいて、当該発振素子の周波数経時変化特性の評価式を計算することを特徴とする発振素子の周波数経時変化の測定方法。

IPC (3件)：

G01R 23/02 ,  G04D 7/00 ,  H03H 3/04

FI (4件)：

G01R 23/02 ,  G04D 7/00 F ,  H03H 3/04 A ,  H03H 3/04 B