特許
J-GLOBAL ID：200903013396734419
粒度分布測定用試料のサンプリング装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
藤本 英夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-051921
公開番号（公開出願番号）：特開2001-242062
出願日： 2000年02月28日
公開日（公表日）： 2001年09月07日
要約：
【要約】【課題】 粉体試料を、分級させることなく、光学板の一方の面に均一に分散させた状態で付着させることができる、粒度分布測定用試料のサンプリング装置を提供すること。【解決手段】 内部が真空にされうる容器1の上部に、上端に試料ホッパー8を備え、下端にノズル14を備え、途中にコック17を備えた試料導入管7が気密に容器外部から内部にわたって挿設され、ノズル14の下方にディフューザ16が設けられるとともに、ノズル14の下方に光学板18を水平に設け、コック17が閉じられて容器1内部と試料ホッパー8とが遮断されている状態で試料ホッパー8に粉体試料6が投入されるとともに容器1内が真空引きされ、その後、容器1内が所定の減圧状態になったときにコック17が開かれることにより、粉体試料56が容器側に吸引され、ノズル14を経て光学板18の上面に均一に散布されるように構成している。
請求項（抜粋）：
内部が真空にされうる容器の上部に、上端に試料ホッパーを備え、下端にノズルを備え、途中にコックを備えた試料導入管が気密に容器外部から内部にわたって挿設され、ノズルの下方にディフューザが設けられるとともに、容器の内部下方のノズルの下方に光学板を水平に設け、コックが閉じられて容器内部と試料ホッパーとが遮断されている状態で試料ホッパーに粉体試料が投入されるとともに容器内が真空引きされ、その後、容器内が所定の減圧状態になったときにコックが開かれることにより、粉体試料が容器側に吸引され、ノズルを経て光学板の上面に均一に散布されるように構成したことを特徴とする粒度分布測定用試料のサンプリング装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N 15/02 A
, G01N 1/28 U
