特許
J-GLOBAL ID：200903013429887313
距離測定装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
市村 健夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-068217
公開番号（公開出願番号）：特開平7-253462
出願日： 1994年03月14日
公開日（公表日）： 1995年10月03日
要約：
【要約】【目的】 光源から出射する光の強度分布に基因する誤差を減少させ、距離測定精度の高い距離測定装置を提供する。【構成】 送信光学系14は、並列する複数の主点を有して前記光の光束強度分布を平坦化する光学素子であって、光源3から出射した光15は平坦な強度分布を有して障害物に投射される。そして障害物から反射し戻った光で障害物を検知し、光の送信タイミングS1と受信タイミングS4の差から障害物までの往復時間を計測して障害物までの距離が測定される。
請求項（抜粋）：
光源から出射した光を対象物に向けて送信する送信光学系と、前記送信光学系から送信された光のうち、前記対象物から反射し戻った光を受信し、受信信号を出力する受信手段と、前記受信信号により前記対象物を検知する検知手段と、前記光の送信タイミングと受信タイミングの差から前記対象物までの往復時間を計測して前記対象物までの距離を演算する演算手段とを具備する距離測定装置において、前記送信光学系は、並列する複数の主点を有して前記光の光束強度分布を平坦化する光学素子を具備することを特徴とする距離測定装置。
IPC (2件)：
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