特許

J-GLOBAL ID：200903013444717467

テスト操作手順作成装置、そのプログラムおよびテスト操作手順作成方法

発明者： 中神 史幸
出願人/特許権者： シャープ株式会社
代理人 (5件)： 船山 武 ,  三木 雅夫 ,  野村 進 ,  大房 直樹 ,  覚田 功二
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-025449
公開番号（公開出願番号）：特開2008-191919
出願日： 2007年02月05日
公開日（公表日）： 2008年08月21日
要約：

【課題】テスト対象機器の状態や機器の仕様に応じたシナリオを容易にかつ短時間で作成すること【解決手段】テスト対象となる機器の遷移状態とこの遷移状態間を遷移するための操作手順とに関する情報を格納する機器仕様記憶手段と、機器の遷移状態を格納する状態管理記憶手段と、機器のテストにおける遷移状態の遷移シーケンスに関する情報を含むテストケースの入力を受付けるテストケース受付手段と、遷移シーケンス中の各遷移のための操作手順情報を、機器仕様記憶手段と状態管理記憶手段とを参照して算出する操作手順算出手段と、遷移状態算出手段が算出した操作手順情報を出力する操作手順出力手段とを具備することを特徴とするテスト操作手順作成装置。【選択図】図4

請求項（抜粋）：

テスト対象となる機器の遷移状態と該遷移状態間を遷移するための操作手順とに関する情報を格納する機器仕様記憶手段と、 前記機器の遷移状態を格納する状態管理記憶手段と、 前記機器のテストにおける遷移状態の遷移シーケンスに関する情報を含むテストケースの入力を受付けるテストケース受付手段と、 前記遷移シーケンス中の各遷移のための操作手順情報を、前記機器仕様記憶手段と前記状態管理記憶手段とを参照して算出する操作手順算出手段と、 前記遷移状態算出手段が算出した操作手順情報を出力する操作手順出力手段と を具備することを特徴とするテスト操作手順作成装置。

IPC (3件)：

G06F 3/048 ,  G06F 3/14 ,  G01R 31/00

FI (3件)：

G06F3/048 651E ,  G06F3/14 310E ,  G01R31/00

Fターム (16件)：

2G036AA19 ,  2G036AA28 ,  2G036BA16 ,  2G036BA46 ,  2G036CA12 ,  5B069AA01 ,  5B069BA04 ,  5B069BB16 ,  5B069CA18 ,  5B069CA19 ,  5B069DD00 ,  5B069FA01 ,  5B069FA02 ,  5E501AA04 ,  5E501AA19 ,  5E501BA20