特許
J-GLOBAL ID：200903013457949316
集積回路装置及び集積回路装置の製造方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
松隈 秀盛
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-079696
公開番号（公開出願番号）：特開平6-289106
出願日： 1993年04月06日
公開日（公表日）： 1994年10月18日
要約：
【要約】【目的】 テストモードコントローラによって第2及び第3モジュールで入力選択を行うようにすると共に、アウトプットセレクタによって第1モジュールの出力データと第2モジュールの出力データを選択的に出力させるようにすることで、各モジュールのテストが容易になり、短いテストデータで故障検出率を高め、しかもシミュレーション時間を大幅に短縮できるので、ICの製造コストを大幅に削減することができる。【構成】 入力データに対して各々所定の処理を行う第1、第2及び第3モジュール8、9、10と、これら第1、第2及び第3モジュールの動作をテストする場合、第1、第2及び第3モジュール8、9、10の信号に対する入出力状態を制御するテストモードコントローラ6及びアウトプットコントローラ7とを有する。
請求項（抜粋）：
入力信号に対して各々所定の処理を行う複数の回路と、上記複数の回路の動作をテストする場合上記複数の回路の信号に対する入出力状態を制御する制御手段とを有することを特徴とする集積回路装置。
IPC (3件)：
G01R 31/28
, G06F 11/22 310
, H01L 21/66
