積層体

発明者： ,
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-053462
公開番号（公開出願番号）：特開平7-256824
出願日： 1994年03月24日
公開日（公表日）： 1995年10月09日
要約：

【要約】【目的】本発明は、積層体自体の層構成や構成材料などの判別が困難であり、かつ特定波長の反射光の機械読み取りから真偽判別を行なうことが可能な光学的な偽造改竄防止用の積層体を提供する。【構成】基材上或いは金属箔上に積層される透明セラミック層を3価以上の金属、若しくは半導体をドープしてなる酸化亜鉛で構成することにより、透明セラミック層が可視領域で透明、かつ赤外領域で吸収を示し、とくに1000nm以上の波長領域で、そのドーパント量(キャリア濃度)や膜厚に応じて吸収を示すため、この波長領域で照射された赤外線は、透明セラミック層を透過するときに減衰し、この反射光量から積層体を特定することができる。

請求項（抜粋）：

基材上に金属層、透明セラミック層、保護層が順次積層されてなる積層体において、前記透明セラミック層が3価以上の金属、若しくは半導体をドープしてなる酸化亜鉛であることを特徴とする積層体。

IPC (5件)：

B32B 18/00 , B32B 7/02 103 , B32B 7/10 , B32B 15/20 , C01G 9/00

前のページに戻る