特許
J-GLOBAL ID:200903013503324849

電気光学装置および電子機器

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件): 上柳 雅誉 ,  藤綱 英吉 ,  須澤 修
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2004-087610
公開番号(公開出願番号):特開2005-274932
出願日: 2004年03月24日
公開日(公表日): 2005年10月06日
要約:
【課題】 駆動回路や検査回路の前段に設けられた処理回路に対して静電気による過電圧が与える影響を低減する。【解決手段】 液晶装置D1は、素子基板10の板面11上に配列する複数の画素と、供給された信号に基づいて各画素の駆動状態を検出する検査回路45と、板面11のうち表示領域112からみて縁辺101に近い位置に設けられた接続端子501と、板面11のうち縁辺101よりも縁辺102に近い位置に設けられて静電気によるか電圧を抑制する静電保護回路461と、接続端子501への入力信号を静電保護回路461に供給するための第1の配線511と、静電保護回路461からの出力信号を検査回路45に供給するための第2の配線512とを具備する。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
板面と当該板面を挟んで相互に対向する第1および第2の縁辺とを有する基板と、 前記板面上に配列されて駆動回路により駆動される複数の画素と、 供給された信号に基づいて前記各画素の駆動状態を検出する検査回路と、 前記板面のうち前記複数の画素からみて前記第1の縁辺に近い位置に設けられた接続端 子と、 前記板面のうち前記第1の縁辺よりも前記第2の縁辺に近い位置に設けられて入力信号 の波形を整形して出力する処理回路と、 前記接続端子への入力信号を前記処理回路に供給するための第1の配線と、 前記処理回路からの出力信号を前記検査回路に供給するための第2の配線と を具備する電気光学装置。
IPC (3件):
G09F9/30 ,  G02F1/1343 ,  G09F9/00
FI (4件):
G09F9/30 330Z ,  G02F1/1343 ,  G09F9/00 309Z ,  G09F9/00 352
Fターム (23件):
2H092GA61 ,  2H092GA64 ,  2H092JB74 ,  2H092JB77 ,  2H092JB79 ,  2H092NA14 ,  2H092NA17 ,  5C094AA31 ,  5C094AA42 ,  5C094AA48 ,  5C094BA03 ,  5C094BA43 ,  5C094CA19 ,  5C094DA09 ,  5C094DB01 ,  5C094DB02 ,  5C094FA01 ,  5C094GB10 ,  5G435AA00 ,  5G435AA17 ,  5G435BB12 ,  5G435CC09 ,  5G435KK05
引用特許:
出願人引用 (1件)
  • 液晶表示装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平9-110049   出願人:カシオ計算機株式会社
審査官引用 (3件)

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