特許

J-GLOBAL ID：200903013517995134

粒度分布測定装置

発明者： 大畑 学
出願人/特許権者： 日機装株式会社
代理人 (1件)： 吉田 研二 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-317459
公開番号（公開出願番号）：特開2001-133386
出願日： 1999年11月08日
公開日（公表日）： 2001年05月18日
要約：

【要約】【課題】 粒度分布測定装置の光軸調整を安価な機構で簡易に行うことができるようにする。【解決手段】 散乱場10の光源側に、光軸調整用機構40を配置する。光軸調整用機構40は、光軸調整用レンズ42とこれを光軸に交差する面内で移動させる駆動機構を有している。光軸調整用レンズ42の焦点距離Fは、これと集光レンズ16の距離Lより十分長い。光軸調整用レンズ42を移動すると、この移動量にL/Fを乗じた量だけ、検出器18上の光軸位置が移動する。よって、光軸調整用レンズ42の比較的大きな動きでも、検出器18上の光軸の微細な調整が可能となり、駆動機構として比較的安価な部品を用いることができる。

請求項（抜粋）：

分散した粒状試料に照射された光の散乱状態を測定することによって、試料の粒度を測定する粒度分布測定装置において、試料により散乱した光を、その散乱角ごとに集光させる集光レンズと、集光レンズの集光位置に配置される散乱状態を検出する検出器と、前記試料の光源側に配置され、集光レンズまでの距離より十分長い焦点距離を有する光軸調整用レンズと、前記光軸調整用レンズを光軸に交差する面内で移動させる移動手段と、を有する、粒度分布測定装置。