特許

J-GLOBAL ID：200903013525611531

吸着または吸収過程の解析方法および解析装置

発明者： 北川 哲司
出願人/特許権者： 東レ株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-179246
公開番号（公開出願番号）：特開平10-027187
出願日： 1996年07月09日
公開日（公表日）： 1998年01月27日
要約：

【要約】【課題】物質の内部及び/または表面へ複数の分子が吸着及び/または吸収する過程または状態を分子シミュレーションする。【解決手段】 物質の内部及び/または表面へ複数の分子が吸着及び/または吸収する過程及び状態を分子シミュレーションする方法として、(1)カノニカルモンテカルロ法により分子を物質及び/または表面へ吸着及び/または吸収させる工程(CMC工程)。(2)そして吸着及び/または吸収させた構造を記憶し、次の繰り返し計算のCMC工程で用いる初期構造として定義する工程(R工程)。の2工程を含む演算を繰り返し行う。

請求項（抜粋）：

物質の内部及び/または表面へ複数の分子が吸着及び/または吸収する過程または状態を分子シミュレーションにより解析する方法として、(1)カノニカルモンテカルロ法により分子を物質及び/または表面へ吸着及び/または吸収させる工程(CMC工程)。(2)そして吸着及び/または吸収させた構造を次の繰り返し計算のCMC工程で用いる初期構造として定義する工程(R工程)。の2工程を含む演算を繰り返し行うことを特徴とする吸着または吸収過程の解析方法。

IPC (3件)：

G06F 17/50 ,  G06F 17/00 ,  G06F 17/17

FI (3件)：

G06F 15/60 638 ,  G06F 15/20 D ,  G06F 15/353