特許

J-GLOBAL ID：200903013526829611

連続X線エネルギー周波数分布算出方法および装置

発明者： 高橋 和彦
出願人/特許権者： キヤノン株式会社
代理人 (2件)： 西山 恵三 ,  内尾 裕一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-258011
公開番号（公開出願番号）：特開2007-068711
出願日： 2005年09月06日
公開日（公表日）： 2007年03月22日
要約：

【課題】 高価な測定装置を使用することなく、連続X線発生源の軟線と硬線の割合を算出する方法及び装置を提供することを目的とする。【解決手段】 均一な物質に連続X線を照射して得られる透過厚と透過強度との関係を示す透過厚特性データを用いて、連続X線を単色X線の重ね合わせでモデル化して、軟線と硬線の割合を算出する。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

均一な物質に連続X線を照射して得られる透過厚と透過強度との関係を示す透過厚特性データを入力する透過厚特性データ入力部と、 連続X線をN種類(N>=1)の離散X線エネルギー周波数で近似する近似モデル式を作成する近似モデル式作成部と、 前記透過厚特性データと、近似モデル式と、を用いて、前記連続X線に含まれるN種類のX線エネルギー周波数の強度比と、前記N種類のX線エネルギー周波数の減弱係数と、を算出するX線エネルギー周波数分布算出部と、 前記X線エネルギー周波数分布算出部で算出した複数の算出データのうち、少なくとも強度比を含む算出データを出力するX線パラメータ出力部と、 を有することを特徴とし、 前記近似モデル式は、透過厚をx、透過厚xに対応する透過強度をJ(x)、n番目のX線エネルギー周波数の強度比をFn、n番目のX線エネルギー周波数の減弱係数をUnとした場合に、

IPC (4件)：

A61B 6/00 ,  A61B 6/03 ,  G01B 15/02 ,  G01T 1/36

FI (6件)：

A61B6/00 390Z ,  A61B6/00 390A ,  A61B6/03 F ,  A61B6/03 Z ,  G01B15/02 A ,  G01T1/36 A

Fターム (24件)：

2F067AA27 ,  2F067CC19 ,  2F067HH04 ,  2F067HH16 ,  2F067JJ03 ,  2F067KK06 ,  2F067LL00 ,  2F067RR31 ,  2F067RR33 ,  2G088EE01 ,  2G088FF02 ,  2G088FF15 ,  2G088KK01 ,  2G088KK21 ,  2G088KK40 ,  2G088LL05 ,  2G088LL08 ,  4C093AA16 ,  4C093AA22 ,  4C093EA07 ,  4C093EA11 ,  4C093FC24 ,  4C093GA01 ,  4C093GA05

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 特公平03-027046号公報