特許
J-GLOBAL ID：200903013543853763

質量分析法および質量分析装置

発明者：
早川 滋雄

早川 滋雄 について


出願人/特許権者：
財団法人大阪産業振興機構

財団法人大阪産業振興機構 について


代理人 (1件)： 特許業務法人池内・佐藤アンドパートナーズ
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-122359
公開番号（公開出願番号）：特開2003-315313
出願日： 2002年04月24日
公開日（公表日）： 2003年11月06日
要約：
【要約】【課題】 異性体の識別を実現可能とする新たな質量分析法およびそれに用いる質量分析装置を提供する。【解決手段】 イオン源21で被測定物をイオン化してn価(nは2以上の整数)の正イオンを含む複数の正イオンを生成する工程と、上記複数の正イオンから上記n価の正イオンを分離してターゲットチャンバ25内のターゲットに衝突させ、(n-1)価以下の正イオンであるフラグメントイオンを生成する工程と、電場26およびイオン検出器27で上記フラグメントイオンの質量分析を行う工程とを含む。
請求項（抜粋）：
(i)被測定物をイオン化してn価(nは2以上の整数)の正イオンを含む複数の正イオンを生成する工程と、(ii)前記複数の正イオンから前記n価の正イオンを分離してターゲットに衝突させ、(n-1)価以下の正イオンであるフラグメントイオンを生成する工程と、(iii)前記フラグメントイオンの質量分析を行う工程とを含むことを特徴とする質量分析法。
IPC (3件)：
G01N 27/62 ,  G01N 27/64 ,  H01J 49/26
FI (7件)：
G01N 27/62 V ,  G01N 27/62 G ,  G01N 27/62 K ,  G01N 27/62 L ,  G01N 27/64 B ,  G01N 27/64 C ,  H01J 49/26
Fターム (4件)：
5C038HH05 ,  5C038HH11 ,  5C038HH13 ,  5C038HH28
引用特許：
出願人引用 (1件) 審査官引用 (1件)
引用文献：
出願人引用 (1件) 審査官引用 (1件)

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