特許
J-GLOBAL ID:200903013555570082
物質中に存在する化学元素の同位体選択的測定方法及び測定システム
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
石井 陽一
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-574914
公開番号(公開出願番号):特表2002-526767
出願日: 1999年08月24日
公開日(公表日): 2002年08月20日
要約:
【要約】【課題】 物質、特に放射性物質中に存在する化学元素、特に放射性元素の同位体選択的測定方法および測定装置において、全濃度を測定できるとともに、含まれる元素の同位体組成をできるだけ早く測定できるようにすることを課題とする。【解決手段】 測定を目的として、分析対象のサンプルからレーザーアブレーションによってプラズマをサンプルの蒸気クラウドとして発生する光学的発光分光法を、サンプルの蒸気クラウドについてレーザー誘導蛍光励起を行うレーザー誘導蛍光分光法と併用する。
請求項(抜粋):
物質、特に放射性物質中に存在する化学元素、特に放射性元素の同位体選択的測定方法において、測定を目的として、分析対象のサンプル(18、23)からレーザーアブレーションによってプラズマ(24)をサンプルの蒸気クラウドとして発生する光学的発光分光(OES)法を、サンプルの蒸気クラウドについてレーザー誘導蛍光励起を行なうレーザー誘導蛍光分光(LIF)法と併用することを特徴とする測定方法。
IPC (2件):
FI (2件):
G01N 21/64 Z
, G01N 21/63 A
Fターム (10件):
2G043AA01
, 2G043CA05
, 2G043EA01
, 2G043EA10
, 2G043GA02
, 2G043HA01
, 2G043JA03
, 2G043KA08
, 2G043KA09
, 2G043LA01
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