特許

J-GLOBAL ID：200903013566206536

コート材の膜厚測定方法および装置

発明者： 松下 和彦 ,  藤田 敬二 ,  木村 英一
出願人/特許権者： 倉敷紡績株式会社
代理人 (1件)： 青山 葆 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-277053
公開番号（公開出願番号）：特開平6-129817
出願日： 1992年10月15日
公開日（公表日）： 1994年05月13日
要約：

【要約】【目的】 基材にコーティングを施した被測定物について、そのコート厚みを正確に測定する。【構成】 第1、第2測定波長λ1,λ2および少くとも1つの参照波長λ3について基材のみ吸光度A10,A20,A30を予め測定し、基材の厚みに無関係な補正係数k[=(A10-A30)/(A20-A30)]を求めておき、被測定物について測定した吸光度A1,A2,A3からコート材の吸光度AをA=A1-A3-k(A2-A3)によって求め、これを厚みに換算して厚みを検出する。【効果】 基材の厚みの変動や赤外線のコーティングによるしみ込み深さの変動等に影響されることなしに精度の高い測定が可能となる。

請求項（抜粋）：

基材にコーティングを施した被測定物のコート材の膜厚を測定するに際して、コート材および基材の両方に赤外線吸収がある波長λ1を有する第1測定光と、基材のみに赤外線吸収がある波長λ2を有する第2測定光と、コート材には赤外線吸収がなく基材について赤外線吸収が小さいかない波長λ3を有する参照光とを用いて、基材のみの吸光度A10,A20,A30を予め測定して、補正係数kを次式により算出しておき、k=(A10-A30)/(A20-A30)被測定物についてλ1,λ2,λ3での吸光度A1,A2,A3を測定し、これら測定値から次式によりコート材のみの吸光度Aを演算し、A=A1-A3-k(A2-A3)求めた吸光度Aを厚みに換算してコート材を膜厚を求めるようにしたコート材の膜厚測定方法。