特許

J-GLOBAL ID：200903013694521274

EL表示装置の補修方法及びEL表示装置の補修装置

発明者： 浅井 伸利
出願人/特許権者： ソニー株式会社
代理人 (1件)： 船橋 國則
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-366048
公開番号（公開出願番号）：特開2004-199970
出願日： 2002年12月18日
公開日（公表日）： 2004年07月15日
要約：

【課題】正確にショート箇所を捉えることができるEL表示装置の補修方法及びEL表示装置の補修装置を提供し、ミスショットを防止して補修作業の信頼性向上、補修作業の効率化を図る。【解決手段】EL表示装置15の補修方法において、被補修対象のEL表示装置15を全面点灯させる。全面点灯させたEL表示装置15の滅点画素を光学顕微鏡7の低倍率視野内で捉えて位置を求める。求められた位置に基づき滅点画素を赤外線温度画像検出顕微鏡5の高倍率視野内で捉えて発熱箇所の位置を求める。求められた発熱箇所の位置に基づき発熱箇所を光学顕微鏡7の光軸に一致させて高倍率視野内に捉えるとともに、光学顕微鏡7と同一の光軸でレーザを照射して発熱箇所であるショート箇所を分断する。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

被補修対象のEL表示装置を全面点灯させる工程と、 前記全面点灯させたEL表示装置の滅点画素を光学顕微鏡の低倍率視野内で捉えて該滅点画素の位置を求める工程と、 該求められた位置に基づき該滅点画素を赤外線温度画像検出顕微鏡の高倍率視野内で捉えて発熱箇所の位置を求める工程と、 該求められた発熱箇所の位置に基づき該発熱箇所を前記光学顕微鏡の光軸に一致させて高倍率視野内に捉えるとともに該光学顕微鏡と同一の光軸でレーザを照射して前記発熱箇所であるショート箇所を分断する工程と を含むことを特徴とするEL表示装置の補修方法。

IPC (4件)：

H05B33/10 ,  G09F9/00 ,  G09F9/30 ,  H05B33/14

FI (4件)：

H05B33/10 ,  G09F9/00 352 ,  G09F9/30 365Z ,  H05B33/14 A

Fターム (11件)：

3K007AB18 ,  3K007BA06 ,  3K007DB03 ,  3K007FA00 ,  5C094AA41 ,  5C094BA27 ,  5C094CA19 ,  5G435AA19 ,  5G435BB05 ,  5G435CC09 ,  5G435KK10