特許
J-GLOBAL ID：200903013697436634
ループプローブの校正方法及びその校正治具
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
京本 直樹 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-330431
公開番号（公開出願番号）：特開平7-191122
出願日： 1993年12月27日
公開日（公表日）： 1995年07月28日
要約：
【要約】【目的】 TEMセル等の高価な装置を必要とせず、広い周波数帯域でループプローブを校正できる校正方法とその校正治具を提供する。【構成】 校正基準となる磁界強度を被校正ループプローブで測定することにより行う校正方法であって、基準磁界強度に直線状のストリップ導体4と接地導体5とで構成される不平衡マイクロストリップ線路3より発生するTEMモードの磁界を用いる。
請求項（抜粋）：
ループプローブの校正基準となる磁界強度を被校正ループプローブで測定することにより行うループプローブの校正方法であって、直線状のストリップ導体と接地導体とで構成された不平衡形マイクロストリップ線路の発生するTEMモードの磁界を前記基準磁界強度とすることを特徴とするループプローブの校正方法。
IPC (4件)：
G01R 35/00
, G01R 29/10
, H01P 1/00
, H01P 3/08
