分光特性測定装置

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：鈴木晴敏
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-105075
公開番号（公開出願番号）：特開平7-311089
出願日： 1994年05月19日
公開日（公表日）： 1995年11月28日
要約：

【要約】【目的】被写体からの光の可視領域におけるすべての任意の連続した波長域の二次元的な分光特性を正確に解析し得るコンパクト構造の分光特性測定装置を提供する。【構成】被写体1からの光をスリット状の切片として抽出するスリット手段2と、それからの光を平行光に変換する光学系4と、平行光を分光して分光像を生成する分光素子5と、分光像を撮像して切片ごとの画像データを得るエリアセンサ7と、被写体1を走査するスキャニング機構3により走査された切片ごとの画像データを解析して二次元的な分光特性データを得る解析手段8等から構成される。なお、被写体1の光学像を得るため分光素子と交換可能な結像素子6が設けられ、エリアセンサ7の波長依存性の補正を行う感度特性補正装置9を付設する。

請求項（抜粋）：

被写体から発した光を線状に切り出し、切片を抽出するスリット手段と、該スリット手段に対して被写体を相対的に移動させ抽出した切片を順次選択走査するスキャニング手段と、切り出された光を平行光に変換する光学系と、前記平行光を分光して前記被写体から抽出した切片の分光像を生成する分光素子と、前記分光像を切片毎に撮像して対応する画像データを出力するエリアセンサと、前記画像データを演算処理して被写体の二次元分光像を合成する解析手段を設けることを特徴とする分光特性測定装置。

引用特許：

審査官引用 (3件)

特開平1-292222
特開平2-226027
分光型走査顕微鏡
公報種別：公開公報出願番号：特願平3-344573 出願人：株式会社日立製作所

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