特許
J-GLOBAL ID：200903013756804359
取り外し可能要素検定装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
松永 宣行
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-548094
公開番号（公開出願番号）：特表2002-503335
出願日： 1998年04月15日
公開日（公表日）： 2002年01月29日
要約：
【要約】サンプル中のアナライトの検出または決定のための検定装置(10)は、より大きい融通性を提供しまた製造および貯蔵コストを軽減するために取り外し可能に取り付け可能である要素(12,14)またはヒンジ結合されたパネル(16,18)を用いる。1の実施例では、装置(10)は第1のパネル(16)を含む第1の対向可能要素(12)と、第1のパネル(16)に据え付けられこれに対して全体に平行である第2のパネル(18)とを含み、第2のパネル(18)は、サンプルコレクション装置(図示せず)のための第1の貯蔵所(20)を形成する開口を有し、テストストリップ(26)のための第2の貯蔵所(22)が第1のパネル(16)および第2のパネル(18)により形成され、また、第2の対向可能要素(14)が第1の対向可能要素(12)にヒンジ結合で取り付けられている。この装置(10)では、第1の対向可能要素(12)および第2の対向可能要素(14)は、テストストリップ(26)上で行われたテストによるアナライトの検出または決定のため、流体がサンプルコレクション装置(図示せず)から搾り出され、テストストリップ(26)に付着される。テストキットおよび装置の使用方法と共に、装置の他の実施例が含まれる。
請求項（抜粋）：
アナライトの検出または決定のための検定装置であって、 (a)第1の対向可能要素であって (i)第1のパネルと、(ii)第2のパネルであって前記第1のパネルと前記第2のパネルとの間に空間をおいて前記第1のパネルに全体に平行に据えられた、サンプルコレクション装置のための第1の貯蔵所を形成する開口を有する第2のパネルと、(iii)前記第1のパネルおよび前記第2のパネルにより形成されたテストストリップのための第2の貯蔵所とを含む第1の対向可能要素と、 (b)前記第1の対向可能要素にヒンジ結合で取り付けられた第2の対向可能要素とを含み、 第1および第2の対向可能要素は、流体が前記サンプルコレクション装置から搾り出され、前記テストストリップ上で行われるテストによるアナライトの検出または決定のために前記テストストリップに付着されるように、操作可能の接触状態におかれる、検定装置。
IPC (5件)：
G01N 33/543 521
, G01N 21/01
, G01N 30/00
, G01N 30/88
, G01N 21/27
G01N 33/543 521
, G01N 21/01 B
, G01N 30/00 A
, G01N 30/88 E
, G01N 21/27 B
