特許
J-GLOBAL ID：200903013782702807
基板検査装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
森本 義弘
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-304232
公開番号（公開出願番号）：特開平6-160035
出願日： 1992年11月16日
公開日（公表日）： 1994年06月07日
要約：
【要約】【目的】部品や半田の有無や位置ずれなどを安定して確実に検査する。【構成】基板21や部品22からの反射光が、撮像のための光学系24により、R,G,B信号各々の光電変換素子25,26,27上に像を結び、入射光量に比例したアナログ信号が出力される。これらアナログ信号をR,G,B信号各々の対数アンプ28,32,35により非線形変換を行い信号の小さい部分を引き伸ばす。その引き伸ばされたアナログ信号を、RGB信号各々のA/D変換回路29,33,36、RGB信号各々のシェーディング補正回路30,34,37さらにRGB-YIQ変換回路31により変換してYIQ信号各々の画像メモリ38,39,40に書き込む。最後に、YIQ信号の画像メモリ38,39,40の内容を演算する1チップマイクロコンピュータ41によって、基板、電子部品およびクリーム半田などの色の差を充分な分解能で見分け、部品や半田の有無や位置ずれなどを安定して検査する。
請求項（抜粋）：
基板に実装された電子部品や、基板に印刷されたクリーム半田などの被写体を複数色のカラー画像撮像手段を用いて検査する基板検査装置であって、前記複数色のカラー画像撮像手段からのアナログ出力信号を非線形変換する非線形変換手段を設け、前記非線形変換手段により分解能の必要な信号の小さい部分を引き伸ばす構成とした基板検査装置。
IPC (4件)：
G01B 11/24
, G01N 21/88
, H05K 3/00
, H05K 13/08
