特許

J-GLOBAL ID：200903013801714684

光学装置

発明者： 大野田 仁 ,  門原 輝岳
出願人/特許権者： キヤノン株式会社
代理人 (1件)： 中村 稔
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-188111
公開番号（公開出願番号）：特開2000-009430
出願日： 1998年06月19日
公開日（公表日）： 2000年01月14日
要約：

【要約】【課題】 光学系の距離情報を直接得ることができなくとも、デフォーカス分布の情報より光学系の距離情報を得るようにする。【解決手段】 外界中の2次元のデフォーカス分布を測定するデフォーカス分布測定手段と、光学系のそれぞれ焦点位置と共役な各外界位置における複数のデフォーカス分布情報をデータとして予め保持している記憶手段と、前記デフォーカス分布測定手段により測定されたデフォーカス分布と前記記憶手段に記憶された複数のデフォーカス分布情報との比較により、現在の光学系の焦点位置と共役な外界位置を推測する外界位置推測手段((301)〜(311))とを有している。

請求項（抜粋）：

外界中の2次元のデフォーカス分布を測定するデフォーカス分布測定手段を有する光学装置において、光学系のそれぞれ焦点位置と共役な各外界位置における複数のデフォーカス分布情報をデータとして予め保持している記憶手段と、前記デフォーカス分布測定手段により測定されたデフォーカス分布と前記記憶手段に記憶された複数のデフォーカス分布情報との比較により、現在の光学系の焦点位置と共役な外界位置を推測する外界位置推測手段とを有したことを特徴とする光学装置。

IPC (3件)：

G01B 11/00 ,  G02B 7/28 ,  G03B 13/36

FI (3件)：

G01B 11/00 H ,  G02B 7/11 Z ,  G03B 3/00 A

Fターム (24件)：

2F065AA06 ,  2F065DD06 ,  2F065FF04 ,  2F065FF05 ,  2F065FF09 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ05 ,  2F065LL04 ,  2F065MM22 ,  2F065QQ31 ,  2F065QQ41 ,  2F065RR06 ,  2F065UU05 ,  2H011AA01 ,  2H011BA23 ,  2H011BB00 ,  2H011BB03 ,  2H051AA06 ,  2H051BA04 ,  2H051CE27 ,  2H051DA07 ,  2H051DA26 ,  2H051GB12 ,  2H051GB20