特許
J-GLOBAL ID:200903013809576167
画像検査装置
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
高矢 諭 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平4-223945
公開番号(公開出願番号):特開平6-066731
出願日: 1992年08月24日
公開日(公表日): 1994年03月11日
要約:
【要約】【目的】 画像中のエッジ部などでの検査の信頼性を向上させる。【構成】 エッジ方向検出手段506、508は、それぞれ、画像を構成する画素の濃度と、該画素の近傍画素の濃度とから、該画素での濃度傾斜方向を検出する。エッジ方向比較手段514は、被検査画像の画素の前記濃度傾斜方向と、該画素に対応する基準画像の画素の前記濃度傾斜方向とを比較する。画像中のエッジ部など、画素の濃度同士の比較では正しく画像検査することができない場合でも、前記濃度傾斜方向の比較により、画像検査の信頼性を向上させることができる。
請求項(抜粋):
被検査画像を基準画像と比較し、該被検査画像を検査する画像検査装置において、画像を構成する画素の濃度と、該画素の近傍画素の濃度とから、該画素での濃度傾斜方向を検出するエッジ方向検出手段と、前記被検査画像の画素の前記濃度傾斜方向と、該画素に対応する前記基準画像の画素の前記濃度傾斜方向とを比較するエッジ方向比較手段とを備えたことを特徴とする画像検査装置。
IPC (4件):
G01N 21/88
, B41F 33/14
, G06F 15/62 410
, G06F 15/70 460
引用特許:
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