蛍光X線分析方法

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：藤本英夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-214857
公開番号（公開出願番号）：特開平7-049319
出願日： 1993年08月05日
公開日（公表日）： 1995年02月21日
要約：

【要約】【目的】定量測定、計算の条件設定で人為的な設定ミスをなくし、条件設定の手間を軽減し、専門的な知識がなくても精度良く定量分析を行うことができる蛍光X線分析方法を提供すること。【構成】試料3に対してX線2を照射し、そのとき発生する蛍光X線5を検出器4で検出し、この検出器4の出力に基づいてスペクトルデータを得るようにした蛍光X線分析方法において、前記スペクトルデータの形状から試料の種類を判定し、試料系統によってその試料に最適の計算条件を自動的に設定して濃度計算を行うようにした。

請求項（抜粋）：

試料に対してX線を照射し、そのとき発生する蛍光X線を検出器で検出し、この検出器の出力に基づいてスペクトルデータを得るようにした蛍光X線分析方法において、前記スペクトルデータの形状から試料の種類を判定し、試料系統によってその試料に最適の計算条件を自動的に設定して濃度計算を行うことを特徴とする蛍光X線分析方法。

引用特許：

審査官引用 (13件)

特公昭59-030213
特開平4-343051
特開平3-073833

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