特許
J-GLOBAL ID：200903013888216340
分析装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小林 良平
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-148663
公開番号（公開出願番号）：特開平10-318803
出願日： 1997年05月21日
公開日（公表日）： 1998年12月04日
要約：
【要約】【課題】 長時間の連続分析中の分析の妥当性を検証できるようにする。【解決手段】 多数の試料の分析順序や分析条件等を設定するスケジュールにおいて、各試料の分析に対応して自己診断の必要性及び診断結果に応じた処理を設定する。該スケジュールに応じて分析を進める際に、自己診断が指示されているときには該試料の分析直後に、データ取得部17は各部の所定の消耗部品の使用積算時間及び分光光度型検出器14の波長の正確さ等の情報を得て、診断部18は予め定められている基準値と比較し正常であるか否かを判断する。異常であると判断され、且つ、異常時に分析を中止する、という処理が指示されている場合には、制御部15は各部の動作を停止させて以降の分析を中止する。
請求項（抜粋）：
予め設定された分析スケジュールに則って複数の試料の分析を一連に実行する分析装置において、a)各試料の分析毎に、診断動作を行なうか否かの選択及び該診断の結果に応じた処理動作の種類を分析スケジュールにおいて指示しておくための入力手段と、b)一連の分析時に、前記分析スケジュールにて診断動作の指示されている試料の分析の前又は後に当該分析装置内部の所定箇所の状態をチェックする診断手段と、c)該診断手段の診断結果を受けて、前記分析スケジュールにて指示されている処理動作に応じて分析動作を制御する制御手段と、を備えることを特徴とする分析装置。
IPC (3件)：
G01D 18/00
, G01N 30/02
, G01N 35/00
G01D 18/00
, G01N 30/02 Z
, G01N 35/00 F
