特許

J-GLOBAL ID：200903013935695546

生体眼計測装置

発明者： 畑中 英樹
出願人/特許権者： 株式会社トプコン
代理人 (1件)： 西脇 民雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-002741
公開番号（公開出願番号）：特開平6-205739
出願日： 1993年01月11日
公開日（公表日）： 1994年07月26日
要約：

【要約】【目的】 生体眼の計測精度の向上、測定の迅速化をより一層図ることのできる生体眼計測装置を提供すること。【構成】 本発明の生体眼計測装置は、コヒーレント長の短い光を発生する光源からの光束を測定光路と参照光路とに分割し、測定光路に導かれた光束を眼底147に照射してその反射光と参照光路に導かれた光束とを干渉させ、この干渉光を第1受光部により受光し、参照光路の光路長と第1受光部による信号のピーク位置とから測定光路と参照光路との光路差を求めて眼底147の位置を測定すると共に、角膜120にリング光束を照射してリング像を形成してそのリング像を第2受光部に受像して、第2受光部の出力に基づき角膜120の位置を求め、両位置位置から眼内寸法を計測するものにおいて、第2受光部は第1の二次元イメージセンサ107Aと第2の二次元イメージセンサ107Bとから構成され、角膜120に投影されたリング像が異なる倍率で各二次元イメージセンサ107A、107Bにそれぞれ結像されて、角膜位置が決定される。

請求項（抜粋）：

コヒーレント長の短い光を発生する光源からの光束を測定光路と参照光路とに分割して導き、測定光路に導かれた光束を眼内測定対象物に照射してその眼内測定対象物からの反射光と前記参照光路に導かれた光束とを干渉させ、この干渉光を第1受光部により受光し、前記参照光路の光路長と前記第1受光部により得られた信号のピーク位置とから前記測定光路と前記参照光路との光路差を求めて前記眼内測定対象物の位置を測定すると共に、被検眼角膜にリング光束を照射してリング像を形成してそのリング像を第2受光部に受像して、該第2受光部の出力に基づき前記被検眼角膜の位置を求め、該被検眼角膜の位置と前記眼内測定対象物の位置とから眼内寸法を計測する生体眼計測装置において、前記第2受光部は第1の二次元イメージセンサと第2の二次元イメージセンサとから構成され、前記被検眼角膜に投影されたリング像が異なる倍率で前記各二次元イメージセンサにそれぞれ結像されて、前記角膜位置の決定が行われることを特徴とする生体眼計測装置。